便携式数字探伤仪如何调试双晶探头

联合双探头(分割型探头)俗称双晶探头。分为接触式纵波联合双探头和接触式横波联合双探头。即双晶直探头和双晶斜探头。双晶探头的结构是两个单探头的组合一个用于发射一个用于接收发射电脉冲不进入接收电路因此不受探伤仪器放大器的阻塞影响可以探测近表面缺陷。收发探头都有各自的延迟块而且两个延迟块的声束入射平面均带一倾角倾角的大小则取决于要探测区域距探测面的深度。本文介绍的是友联探伤仪双晶探头调试方法。


所选探头和试块

1.双晶探头:5P20FG  F10

2.试块:阶梯试块


操作步骤

一.开机

开启仪器电源开关按<¿>键进入探伤界面将探头分别与仪器的收发端连接使仪器处于正常工作状态。

二.选择通道号

按<通道>键在“通道”调节状态下再按<╋>或<━>键选择某一通道。

三.参数清零

在功能菜单中选择“0初始化”初始化当前通道。

四.设置参数

在设置菜单中设置探头类型为“双晶探头”探头频率为5MHz晶片尺寸为20.0按<确认>键退出设置菜单。

五.调试

(一)测零点(测声速)

在测试菜单中,选中“1测零点声速”,预置工件声速为“5900 m/s”一次回波声程输入12mm二次回波声程为24mm(或选择与探头焦点深度相近的试块上两处底波作为一次声程与二次声程)按<确认>键开始测试。找到阶梯试块上深12mm处的大平底波将探头在上面移动由于双晶探头零点较长目标回波可能不在门内,甚至不在屏幕显示范围内此时可调节声程、门位使波处于门内再按<返回>键恢复测试。当其一次回波出现在进波门内时确认稳住探头不动等12mm处二次回波上升至80%时(一般二次回波已预置在门内)再次确认按<y>存储测试数据。

DAC曲线

(二)双晶探头DAC

如需制作DAC曲线在零点声速测完后可在测试菜单中选中“3制作DAC”根据相应参考试块制作。制作方法参见斜探头DAC法。

注:        双晶探头存在焦点深度测零点声速时注意选取与焦点深度接近的试块作为一次声程否则测得的零点声速误差可能较大。

因为焦点附近的回波最高由薄至厚制作DAC曲线所做出曲线与常规斜探头DAC曲线形状有可能不同(可能呈山峰状)。

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